| Voltus Insight AI 在高性能CPU核物理實現上的全流程應用 | |
| 所屬分類：技術論文 | |
| 上傳者：wwei | |
| 文檔大?。?span>5222 K | |
| 標簽： 芯片設計 Insight AI IR-Aware | |
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| 文檔介紹：隨著高性能計算芯片設計向先進工藝節(jié)點演進，芯片集成度的飛躍式增長使得晶體管密度突破每平方毫米數億門級，導致電源分配網絡（PDN）的金屬線寬持續(xù)收窄，通孔電阻呈非線性上升，加上高密度邏輯單元在吉赫茲級時鐘頻率下的同步翻轉行為，顯著加劇了電壓降（IR Drop）風險?；贑adence Voltus Insight AI feature，提出了一種針對高性能CPU核的物理實現的全流程電壓降優(yōu)化方案，通過整合AI驅動的IR感知布局（IR-Aware Placement）、電源網絡加強（reinforce_pg）及Watch Box修復技術，能夠動態(tài)預測電源網格的電流分布熱點，對高功耗邏輯單元進行擺放優(yōu)化，實現IR 熱點區(qū)域的提前預防和高效修復。結果表明，在相同條件下，不僅能節(jié)約時間，提高效率，電壓降修復率也從過去的66%顯著提升至96%，同時避免了時序（Timing）與設計規(guī)則（DRC）的惡化。 | |
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