| 基于Innovus工具的IR Drop自動化修復(fù) | |
| 所屬分類：技術(shù)論文 | |
| 上傳者：aetmagazine | |
| 文檔大小：1139 K | |
| 標簽： 芯片設(shè)計 Innovus工具 IR Drop修復(fù) | |
| 所需積分：0分積分不夠怎么辦？ | |
| 文檔介紹：在先進工藝節(jié)點下，芯片電源網(wǎng)絡(luò)的電阻增加和高密度的晶體管同時翻轉(zhuǎn)會在VDD和VSS上產(chǎn)生電壓降(IR Drop)，導(dǎo)致芯片產(chǎn)生時序問題和功能性障礙。采用基于Innovus工具的三種自動化IR Drop修復(fù)流程在PR (Placement and Route)階段優(yōu)化模塊的動態(tài)IR Drop。結(jié)果表明，Pegasus PG Fix Flow和IR-Aware Placement這兩種方法能分別修復(fù)設(shè)計的48%和33.8%的IR Drop違例，且不會惡化時序和DRC（Design Rule Check），而IR-Aware PG Strape Addition這種方法的優(yōu)化力度相對較小，且會使DRC有較大程度的惡化。 | |
| 現(xiàn)在下載 | |
| VIP會員，AET專家下載不扣分；重復(fù)下載不扣分，本人上傳資源不扣分。 | |
芯片設(shè)計 相關(guān)資源
Copyright ? 2005-2024 華北計算機系統(tǒng)工程研究所版權(quán)所有 京ICP備10017138號-2