文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼： A
DOI：10.16157/j.issn.0258-7998.200189
中文引用格式： 郝強(qiáng)宇，王日炎，周伶俐，等. 一種帶有斜率補(bǔ)償?shù)钠蠝囟葯z測(cè)電路[J].電子技術(shù)應(yīng)用，2020，46(8)：80-82.
英文引用格式： Hao Qiangyu，Wang Riyan，Zhou Lingli，et al. An on-chip temperature sensor with slope compensation[J]. Application of Electronic Technique，2020，46(8)：80-82.
0 引言
集成電路對(duì)溫度的變化十分敏感，不同的溫度下芯片性能不同，過高的溫度也會(huì)導(dǎo)致芯片永久損壞。為了了解芯片所在環(huán)境和其內(nèi)部的溫度情況，需要溫度檢測(cè)電路，以進(jìn)行相應(yīng)的處理。但是，更多功能的增加會(huì)導(dǎo)致芯片面積和功耗的增加。因此，一個(gè)既簡(jiǎn)單易行又不失精確度的溫度檢測(cè)電路將是研究的重點(diǎn)。
最簡(jiǎn)單的電路[1]是將溫度電壓與參考電壓進(jìn)行比較，超過閾值后關(guān)斷電路。但隨著集成電路復(fù)雜程度的增加，需要溫度檢測(cè)電路將溫度轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號(hào)，來控制其他模塊。采用斬波技術(shù)和sigma-delta ADC的溫度檢測(cè)電路[2]具有最高的精度，但是其面積較大，不適合作為片上輔助功能電路使用；另一種結(jié)構(gòu)[3]使用與溫度成正比(PTAT）振蕩器，在不同溫度下，產(chǎn)生不同頻率的時(shí)鐘信號(hào)，容易對(duì)其他電路產(chǎn)生影響，并增加系統(tǒng)雜散；使用亞閾值區(qū)MOS管產(chǎn)生PTAT電壓的溫度檢測(cè)電路[4]具有最小的面積和功耗，但是其線性度一般較差；文獻(xiàn)[5]采用了PTAT電壓、參考電壓、比較器和數(shù)字電路的結(jié)構(gòu)，具有適中的面積和精度，但其參考電壓在通過數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)改變時(shí)，溫度補(bǔ)償性能會(huì)變差。
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作者信息：
郝強(qiáng)宇，王日炎，周伶俐，賀黌胤
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