| 一種電子標簽的加速壽命試驗可靠性預測方法研究 | |
| 所屬分類：技術論文 | |
| 上傳者：wwei | |
| 文檔大?。?span>3747 K | |
| 標簽： 壽命加速 激活能 性能退化 | |
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| 文檔介紹：隨著微電子元器件設計能力和工藝技術的不斷發展，器件的可靠性和壽命不斷增加。射頻識別電子標簽具有需求量大、應用范圍廣、地域（使用溫度）跨度大等特點，這就對產品本身的可靠性提出了較高的要求，研究器件在高低溫下的退化特性具有重要的現實意義。基于Arrhenius理論提出了一種快速計算電子標簽激活能的方法，對電子標簽進行短時間的壽命加速試驗，通過標簽電場強度性能的退化數據預測壽命情況，快速求解電子標簽的激活能，進而計算出不同溫度條件下的加速因子，為電子標簽在不同壽命評價標準下的加速試驗時間提供理論依據。 | |
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