| 基于JTAG的高效調(diào)試系統(tǒng)設(shè)計與實現(xiàn) | |
| 所屬分類：技術(shù)論文 | |
| 上傳者：zhoubin333 | |
| 文檔大小：3530 K | |
| 標(biāo)簽： 調(diào)試系統(tǒng) JTAG接口 IEEE1149.1 | |
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| 文檔介紹：為了給自研處理器芯片提供一種高效方便的調(diào)試方法，提出了一種基于JTAG的片內(nèi)調(diào)試系統(tǒng)設(shè)計方法。該調(diào)試系統(tǒng)在遵循JTAG標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議的基礎(chǔ)上，簡化片內(nèi)調(diào)試硬件模式設(shè)計，以較少的硬件開銷和精簡高效的專用調(diào)試指令設(shè)計，不僅實現(xiàn)了調(diào)試中斷、指令/數(shù)據(jù)斷點(diǎn)設(shè)置、單步執(zhí)行及寄存器/存儲器數(shù)據(jù)讀寫等基本調(diào)試功能，還支持現(xiàn)場保護(hù)與恢復(fù)、Trace Buffer、指令插入執(zhí)行等高級調(diào)試功能。經(jīng)實際芯片測試證明，該調(diào)試系統(tǒng)具有兼容JTAG協(xié)議、功能全面、靈活高效、結(jié)構(gòu)簡單、便于操作等特點(diǎn)。 | |
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