| 基于YOLO的手機(jī)外觀缺陷視覺(jué)檢測(cè)算法 | |
| 所屬分類：技術(shù)論文 | |
| 上傳者：aetmagazine | |
| 文檔大?。?span>594 K | |
| 標(biāo)簽： YOLO 屏幕缺陷檢測(cè) 深度學(xué)習(xí) | |
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| 文檔介紹：針對(duì)在小規(guī)模手機(jī)屏幕缺陷數(shù)據(jù)檢測(cè)效率不高的問(wèn)題，提出了一個(gè)基于YOLO v3的手機(jī)外觀缺陷視覺(jué)檢測(cè)算法，即YOLO-q-v3算法。YOLO-q-v3算法通過(guò)改進(jìn)DarkNet-53網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)，減少原網(wǎng)絡(luò)的層數(shù)和相應(yīng)的模型參數(shù)，有效地提高算法的檢測(cè)效率。將YOLO v3算法和本文提出的YOLO-q-v3算法對(duì)同一數(shù)據(jù)集進(jìn)行對(duì)比實(shí)驗(yàn)，實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，YOLO-q-v3算法能夠正確識(shí)別手機(jī)屏幕裂痕，YOLO-q-v3在檢測(cè)速率上比YOLO v3算法提高了24%。 | |
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