| 基于聚類的密碼芯片頻域側(cè)信道分析 | |
| 所屬分類：技術(shù)論文 | |
| 上傳者：aetmagazine | |
| 文檔大小：549 K | |
| 標(biāo)簽： 側(cè)信道分析 頻域 機(jī)器學(xué)習(xí) | |
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| 文檔介紹：能量跡的對(duì)齊問(wèn)題是影響側(cè)信道分析成功率的關(guān)鍵因素之一，頻域側(cè)信道分析能夠有效解決能量跡在時(shí)域內(nèi)的對(duì)齊問(wèn)題，但由于頻域內(nèi)一個(gè)點(diǎn)對(duì)應(yīng)著時(shí)域內(nèi)多個(gè)點(diǎn)，頻域側(cè)信道分析通常需要比時(shí)域側(cè)信道分析更多的能量跡條數(shù)。為了減少頻域側(cè)信道分析所需能量跡條數(shù)，提出基于聚類的密碼芯片頻域側(cè)信道分析方法，通過(guò)機(jī)器學(xué)習(xí)中的聚類算法分離出有效信號(hào)頻率后，再進(jìn)行側(cè)信道分析，從而減少所需能量跡條數(shù)。實(shí)驗(yàn)表明，所提方法能夠在不同程度上減少頻域側(cè)信道分析所需能量跡條數(shù)。 | |
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