LCR參數(shù)測(cè)量，世強(qiáng)-是德開放實(shí)驗(yàn)室有什么?

　　世強(qiáng)&是德開放實(shí)驗(yàn)室針對(duì)LCR及阻抗特性測(cè)量提供E5061B網(wǎng)絡(luò)分析儀和4263B LCR測(cè)試儀。

　　可應(yīng)用于元器件規(guī)格的確認(rèn)、元器件阻抗特性的表征，未知器件的屬性判斷和無線充電收、發(fā)線圈的電路參數(shù)調(diào)整等。

　　E5061B網(wǎng)絡(luò)分析儀

　　重要特性和功能：

　　l寬頻率范圍：5Hz至3GHz

　　lS參數(shù)測(cè)試端口(5Hz至3GHz，50Ω)

　　l增益相位測(cè)試端口，具有內(nèi)置的 1 MΩ輸入(5 Hz 至 30 MHz)

　　l在低頻頻段也有很高的寬動(dòng)態(tài)范圍

　　l內(nèi)置直流偏置信號(hào)源 (高達(dá)±40 Vdc, 100 mAdc 最大值)

　　可實(shí)現(xiàn)：

　　l基本的低頻網(wǎng)絡(luò)測(cè)量

　　l大衰減和毫歐姆量級(jí)器件的測(cè)量

　　l測(cè)量器件的阻抗

　　阻抗參數(shù)：|Z|、 θz 、|Y|、θy、 Cp、 Cs、 Lp、 Ls、 Rp、 Rs、 D、 Q、 R、 X、G、 B

　　4263B LCR測(cè)試儀：

　　重要特性和功能：

　　l100 Hz、120 Hz、1 kHz、10 kHz、100 kHz測(cè)試頻率

　　l測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)測(cè)功能

　　l高速測(cè)量：25 ms

　　l高速接觸檢查

　　可實(shí)現(xiàn)：

　　l測(cè)量參數(shù)：|Z|、|Y|、u、R、X、G、B、L、C、Q、D、ESR

　　為什么免費(fèi)開放實(shí)驗(yàn)室?

　　為解決企業(yè)的測(cè)試煩惱，快速有效的實(shí)現(xiàn)項(xiàng)目測(cè)試，世強(qiáng)&是德開放實(shí)驗(yàn)室給出了解決辦法。

　　開放實(shí)驗(yàn)室免費(fèi)供外界使用，所有企業(yè)，只要事先申請(qǐng)、登記，均可在世強(qiáng)&是德開放實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行檢測(cè)。

　　除了LCR參數(shù)測(cè)量，世強(qiáng)&是德開放實(shí)驗(yàn)室可提供IoT物聯(lián)網(wǎng)射頻性能測(cè)試方案、EMI預(yù)兼容(輻射)近場(chǎng)測(cè)量方案、低功耗測(cè)量方案、無線充電傳輸效率測(cè)量方案、微小電阻測(cè)試及絕緣電阻測(cè)試以及示波器MSO6032A、DC電壓RXN-3010D、DA電源E3634A等25組測(cè)試儀器。