| I分析系統(tǒng)優(yōu)化小電流測(cè)量- 引言 | |
| 所屬分類(lèi)：解決方案 | |
| 上傳者：zhuyahong | |
| 文檔大小：823 K | |
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| 文檔介紹：許多關(guān)鍵應(yīng)用都需要能夠測(cè)量小電流的能力——比如pA級(jí)或更小。這些應(yīng)用包括確定FET的柵極漏流、測(cè)試敏感的納米電子器件，以及測(cè)量絕緣體或電容的漏流。 | |
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