基于污點(diǎn)分析的二進(jìn)制程序漏洞檢測(cè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)* | |
所屬分類:技術(shù)論文 | |
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文檔大小:1175 K | |
標(biāo)簽: 二進(jìn)制程序靜態(tài)分析 指針?lè)治?/a> 污點(diǎn)分析 | |
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文檔介紹:針對(duì)現(xiàn)階段二進(jìn)制程序的靜態(tài)分析多依賴于人工經(jīng)驗(yàn)規(guī)則導(dǎo)致的低效率問(wèn)題,以及大多數(shù)二進(jìn)制程序漏洞掃描檢測(cè)系統(tǒng)性能和可擴(kuò)展性較低的問(wèn)題,設(shè)計(jì)并且實(shí)現(xiàn)了一個(gè)簡(jiǎn)易版的基于污點(diǎn)分析的二進(jìn)制程序漏洞檢測(cè)系統(tǒng)。與現(xiàn)有的二進(jìn)制程序漏洞檢測(cè)系統(tǒng)相比,本文設(shè)計(jì)的系統(tǒng)改進(jìn)了Java指針?lè)治鲋刑岢龅乃惴ǎ沟梅治鲞^(guò)程的數(shù)據(jù)抽象部分和指針?lè)治霾糠值玫搅朔蛛x,進(jìn)一步簡(jiǎn)化了污點(diǎn)分析,提高了分析的性能和可擴(kuò)展性。此外,將漏洞模式單獨(dú)抽離出來(lái),能夠更加方便地進(jìn)行漏洞模式的自定義。 | |
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