| 雙極運算放大器的輻射效應和退火特性 | |
| 所屬分類：技術論文 | |
| 上傳者：serena | |
| 標簽： 雙極運算放大器 | |
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| 文檔介紹： 本文介紹了O P207 雙極運算放大器的60CoC射線、不同能量電子和質子的輻照試驗以及60CoC和電子輻射損傷在室溫和100℃高溫條件下的退火效應, 揭示了雙極運算放大器電參數(shù)對不同射線的輻照響應規(guī)律; 研究了不同輻射源對雙極運算放大器的不同輻射損傷機理; 并對質子輻照損傷程度與能量的依賴關系以及質子輻照損傷同60CoC和電子輻照損傷的差異進了探討. 結果表明, 界面態(tài)的產(chǎn)生是60CoC和電子輻照損傷的主要原因, 而位移效應造成的體損傷在質子輻照效應中占有重要地位。 | |
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