頭條 是德科技助力蔚來驗(yàn)證新一代汽車無線系統(tǒng) ? 是德科技與蔚來的合作伙伴關(guān)系為蔚來汽車解決方案提供了更好的連接性、可靠性和性能 是德科技(NYSE: KEYS )日前宣布,是德科技利用網(wǎng)絡(luò)仿真解決方案,幫助蔚來成功驗(yàn)證了其智能電動(dòng)汽車中的無線系統(tǒng)。基于此方案,蔚來目前能夠符合 3GPP 和 IEEE 802.11 標(biāo)準(zhǔn),并能夠提供更好的連接性與性能,以支持下一代電動(dòng)汽車的開發(fā)。 最新資訊 NI發(fā)布業(yè)界最高精度的PXI源測(cè)量單元 NI(美國(guó)國(guó)家儀器,National Instruments, 簡(jiǎn)稱NI) 作為致力于為工程師和科學(xué)家提供解決方案來應(yīng)對(duì)全球最嚴(yán)峻的工程挑戰(zhàn)的供應(yīng)商,近日宣布推出NI PXIe-4135源測(cè)量單元(SMU),其測(cè)量靈敏度達(dá)10 fA,輸出電壓高達(dá)200V。工程師可以使用NI PXIe-4135 SMU來測(cè)量低電流信號(hào),并利用NI PXI SMU的高通道密度、高速的測(cè)試吞吐率和靈活性來實(shí)現(xiàn)晶圓級(jí)參數(shù)測(cè)試、材料研究以及分析低電流傳感器和集成電路的特性等各種應(yīng)用。 發(fā)表于:7/26/2016 佛羅里達(dá)大學(xué)電腦安全小組 全球領(lǐng)先的測(cè)量解決方案提供商——泰克科技公司日前宣布,佛羅里達(dá)大學(xué)赫伯特韋工程學(xué)院下屬的佛羅里達(dá)電腦安全研究院 (FICS Research)將采用泰克一流的全線測(cè)試設(shè)備,裝備其電子科研實(shí)驗(yàn)室。 發(fā)表于:7/26/2016 是德科技晶圓級(jí)解決方案平臺(tái)完美集成低頻噪聲測(cè)量 是德科技公司(NYSE:KEYS)宣布推出最新款的高性能先進(jìn)低頻噪聲分析儀(A-LFNA),旨在實(shí)施快速、準(zhǔn)確、可重復(fù)的低頻噪聲測(cè)量。該版本配備全新用戶界面,并與是德科技的 WaferPro Express 軟件緊密集成——這是一款對(duì)半導(dǎo)體器件執(zhí)行自動(dòng)化晶圓級(jí)測(cè)量的平臺(tái)。 發(fā)表于:7/26/2016 實(shí)現(xiàn)精確測(cè)量?jī)纱蠓椒?/a> PA功率分析儀功率單元有兩路輸入:電流和電壓。FPGA和DSP等運(yùn)算直接獲得的測(cè)量數(shù)據(jù)只有電壓和電流的ADC直接測(cè)量的結(jié)果,功率、效率、諧波等均以電壓電流測(cè)量為基礎(chǔ),通過運(yùn)算獲得的結(jié)果,如功率就是使用電壓和電流直接測(cè)量結(jié)果進(jìn)行的運(yùn)算。 發(fā)表于:7/23/2016 MAP圖對(duì)調(diào)速電機(jī)的作用 電機(jī)中的MAP圖是電機(jī)測(cè)試時(shí)生成的一種數(shù)據(jù)曲線圖,主要是反映在不同轉(zhuǎn)速、扭矩下的電機(jī)效率分布情況,通俗而言就是效率分布圖,類似于我們地理課上常見的等高線圖。將效率相同的點(diǎn)連成一環(huán)線直接投影到平面形成水平曲線,不同效率的環(huán)線不會(huì)相合。效率值比較接近的位置,線就會(huì)相對(duì)密集;相反,效率值相差較大的位置,線的間隔也會(huì)較大。 發(fā)表于:7/23/2016 15dB 增益部件在100kHz至1.4GHz 頻率范圍內(nèi) 凌力爾特公司 (Linear Technology Corporation) 推出一款寬帶 15dB 增益部件放大器 LTC6433-15,該器件在 150MHz 提供出色的 47dBm OIP3 (輸出三階截取) 線性度和 3.22dB 噪聲指數(shù)。該放大器擁有 19.2dBm 的卓越 OP1dB (輸出 1dB 壓縮點(diǎn))。 發(fā)表于:7/22/2016 是德科技擴(kuò)充 PXI、AXIe 儀器和參考解決方案陣容 是德科技公司(NYSE:KEYS)日前宣布,其高性能PXI和AXIe儀器和參考解決方案陣容也已擴(kuò)充。這些儀器和解決方案廣泛用于各種應(yīng)用,包括5G、PA/FEM和數(shù)字互連測(cè)試,以提高測(cè)試速度、提升精度并縮小整體尺寸。 發(fā)表于:7/21/2016 中國(guó)力量崛起 微波射頻測(cè)試趨向世界一流 提起微波射頻測(cè)試,大家首先想到的大多是國(guó)際著名電子測(cè)試儀器公司。而中國(guó)自主的微波射頻測(cè)試儀器一般處于一個(gè)相對(duì)較低的水平。現(xiàn)在這種狀況已經(jīng)開始逐漸發(fā)生了轉(zhuǎn)變。記者在2016中國(guó)西部微波射頻技術(shù)研討會(huì)上通過聆聽與會(huì)專家演講和會(huì)后的交流欣喜地發(fā)現(xiàn),中國(guó)微波射頻測(cè)試儀器的許多主要性能指標(biāo)已經(jīng)可以媲美世界一流水平,在個(gè)別方面還有所超過,有著自己的獨(dú)門絕活。 發(fā)表于:7/21/2016 KLA-Tencor 為領(lǐng)先的集成電路技術(shù)推出晶圓全面檢測(cè)與檢查系列產(chǎn)品 在美國(guó)西部半導(dǎo)體展覽會(huì)前,KLA-Tencor 公司(納斯達(dá)克股票代碼:KLAC)今天為前沿集成電路制造推出了六套先進(jìn)的缺陷檢測(cè)與檢查系統(tǒng):3900 系列(以前稱為第 5 代)和 2930 系列寬波段等離子光學(xué)檢測(cè)儀、Puma? 9980 激光掃描檢測(cè)儀、CIRCL?5 全表面檢測(cè)套件、Surfscan® SP5XP 無圖案晶圓缺陷檢測(cè)儀和 eDR7280?電子束檢查和分類工具。 發(fā)表于:7/19/2016 從農(nóng)作物到商店貨架 近紅外光譜分析的應(yīng)用前景一片光明 近紅外(NIR)光譜儀雖然已經(jīng)問世60 年之久,但它在測(cè)量不同材料的能量反射或者透射方面的重要性卻鮮少被人認(rèn)可。NIR 光譜儀可幫助一系列產(chǎn)業(yè)(包括農(nóng)業(yè)、法醫(yī)學(xué)、醫(yī)藥、石油及醫(yī)療保健等等)確定某種物質(zhì)的分子“指紋”。 發(fā)表于:7/19/2016 ?…237238239240241242243244245246…?