2021年1月7日 – 專注于引入新品并提供海量庫存的電子元器件分銷商貿澤電子 (Mouser Electronics) 宣布將攜手ADI于1月12日下午14:00-15:30舉辦一期主題為“ADI助力半導體測試設備成長”的在線研討會。屆時，來自ADI 的技術專家將與觀眾探討分享特定于ATE 應用的豐富產品線以及相應的參考設計方案，讓工程師們能夠更好的了解半導體自動測試設備，進一步提升測試實用技能。
半導體測試是半導體生產過程中的重要環節，其中，測試機是檢測芯片功能和性能的專用設備，需要具有高度集成、高效率和高精度等特點。對于需要高性能、高可靠、高性價比解決方案的 IC 測試應用，ADI 提供了整體的解決方案。本次直播將重點為觀眾介紹集成式引腳電子器件 (PE)、器件電源 (DPS)、參數測量單元 (PMU)、參考設計方案，幫助工程師能夠更好地掌握測試環節中的重要因素，實現更為便捷和高效的測試。
貿澤電子亞太區市場及商務拓展副總裁田吉平女士表示：“隨著芯片性能的提升，芯片的設計也越來越復雜，為了保障產品品質，出貨前的半導體測試已然成為非常重要的部分。對于測試工程師來說，利用良好的測試系統可以獲得較好的測試覆蓋率，而測試系統硬件和軟件的性能不僅影響測試方法，更造成測試的精確度、靈活度及難易度等方面的差別。為了讓工程師在測試應用中，能在特定的情況下找到最佳解決方案，貿澤電子特邀ADI專家分享相關課程，深入探討和剖析IC測試過程中所用到的器件，結合ADI的全面解決方案，助力工程師輕松應對測試中的各類挑戰，提高測試質量。”
本站內容除特別聲明的原創文章之外，轉載內容只為傳遞更多信息，并不代表本網站贊同其觀點。轉載的所有的文章、圖片、音/視頻文件等資料的版權歸版權所有權人所有。本站采用的非本站原創文章及圖片等內容無法一一聯系確認版權者。如涉及作品內容、版權和其它問題，請及時通過電子郵件或電話通知我們，以便迅速采取適當措施，避免給雙方造成不必要的經濟損失。聯系電話：010-82306118；郵箱：aet@chinaaet.com。