2021年1月7日 – 專注于引入新品并提供海量庫存的電子元器件分銷商貿(mào)澤電子 (Mouser Electronics) 宣布將攜手ADI于1月12日下午14:00-15:30舉辦一期主題為“ADI助力半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備成長(zhǎng)”的在線研討會(huì)。屆時(shí)，來自ADI 的技術(shù)專家將與觀眾探討分享特定于ATE 應(yīng)用的豐富產(chǎn)品線以及相應(yīng)的參考設(shè)計(jì)方案，讓工程師們能夠更好的了解半導(dǎo)體自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，進(jìn)一步提升測(cè)試實(shí)用技能。

半導(dǎo)體測(cè)試是半導(dǎo)體生產(chǎn)過程中的重要環(huán)節(jié)，其中，測(cè)試機(jī)是檢測(cè)芯片功能和性能的專用設(shè)備，需要具有高度集成、高效率和高精度等特點(diǎn)。對(duì)于需要高性能、高可靠、高性價(jià)比解決方案的 IC 測(cè)試應(yīng)用，ADI 提供了整體的解決方案。本次直播將重點(diǎn)為觀眾介紹集成式引腳電子器件 (PE)、器件電源 (DPS)、參數(shù)測(cè)量單元 (PMU)、參考設(shè)計(jì)方案，幫助工程師能夠更好地掌握測(cè)試環(huán)節(jié)中的重要因素，實(shí)現(xiàn)更為便捷和高效的測(cè)試。

貿(mào)澤電子亞太區(qū)市場(chǎng)及商務(wù)拓展副總裁田吉平女士表示：“隨著芯片性能的提升，芯片的設(shè)計(jì)也越來越復(fù)雜，為了保障產(chǎn)品品質(zhì)，出貨前的半導(dǎo)體測(cè)試已然成為非常重要的部分。對(duì)于測(cè)試工程師來說，利用良好的測(cè)試系統(tǒng)可以獲得較好的測(cè)試覆蓋率，而測(cè)試系統(tǒng)硬件和軟件的性能不僅影響測(cè)試方法，更造成測(cè)試的精確度、靈活度及難易度等方面的差別。為了讓工程師在測(cè)試應(yīng)用中，能在特定的情況下找到最佳解決方案，貿(mào)澤電子特邀ADI專家分享相關(guān)課程，深入探討和剖析IC測(cè)試過程中所用到的器件，結(jié)合ADI的全面解決方案，助力工程師輕松應(yīng)對(duì)測(cè)試中的各類挑戰(zhàn)，提高測(cè)試質(zhì)量。”