內容簡介：隨著半導體射頻微波器件的性能不斷提升，在片測試及T/R組件等典型應用的測試指標及要求也日趨復雜，不僅追求測試穩定性和規模化，更需要優化測試步驟提升效率。針對于射頻微波器件的全參數一體化測試需求，羅德與施瓦茨高端ZNA矢量網絡分析儀針對典型應用如放大器測試、變頻測試、脈沖測試以及頻譜分析等提供專業一體化測試解決方案。