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惠瑞捷子公司 Touchdown Technologies 推出用于高級(jí)DRAM 測(cè)試的單次觸壓、全晶圓探針
發(fā)表于：7/23/2010 12:00:00 AM
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惠瑞捷在韓國客戶的生產(chǎn)廠安裝首款具有每接腳8 Gbps高速存儲(chǔ)卡V93000測(cè)試機(jī)
發(fā)表于：7/23/2010 12:00:00 AM
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惠瑞捷全新的 HSM3G 高速存儲(chǔ)器測(cè)試解決方案為 DDR3、DDR4和更高級(jí)的內(nèi)存提供了低廉的測(cè)試成本
發(fā)表于：7/23/2010 12:00:00 AM
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惠瑞捷為其面向晶圓級(jí)CSP封裝市場(chǎng)的 V93000 平臺(tái)新增 Direct-Probe? 解決方案
發(fā)表于：6/30/2010 12:00:00 AM
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惠瑞捷第250臺(tái)V93000 Port Scale射頻測(cè)試系統(tǒng)發(fā)貨
發(fā)表于：6/7/2010 12:00:00 AM
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發(fā)揮 FPGA 設(shè)計(jì)的無限潛力
發(fā)表于：6/7/2010 12:00:00 AM
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VLSI Research“2010年客戶滿意度調(diào)查”公布惠瑞捷榮登半導(dǎo)體測(cè)試公司榜首
發(fā)表于：5/26/2010 12:00:00 AM
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惠瑞捷榮膺VLSI Research五星級(jí)客戶滿意度大獎(jiǎng)
發(fā)表于：1/5/2010 12:00:00 AM
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