CPLD器件測試系統
所屬分類：技術論文
上傳者：aet
文檔大小：1451 K
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文檔介紹：以Lattice公司的ispLSI1032E為被測對象，設計出一套測試裝置，對該芯片的性能指標和可能出現的故障進行測試。本裝置只需配置三次電路和施加相應的測試向量就能對芯片進行全面的測試，提高了測試效率，實用價值很高。
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