| 提高TMS320LF2407A內(nèi)部A/D采樣精度和范圍的方法 | |
| 所屬分類：解決方案 | |
| 上傳者：aet | |
| 文檔大?。?span>129 K | |
| 標(biāo)簽： 傳感器與數(shù)據(jù)采集 | |
| 所需積分：0分積分不夠怎么辦？ | |
| 文檔介紹：一種提高TMS320LF2407A內(nèi)部A/D采樣精度和采樣范圍的方法。該方法解決了內(nèi)部A/D的采樣幅值為0～3.3V的瓶頸，并采用TMS320LF2407A內(nèi)部A/D的兩個獨(dú)立的模擬轉(zhuǎn)換通道的排序器SEQ1和SEQ2對采樣對象進(jìn)行分離，在不影響采樣速率的情況下提高A/D的采樣精度。 | |
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