中國 北京- 2010 年 9月14 日 --- 全球領(lǐng)先的測試、測量與監(jiān)測設(shè)備供應(yīng)商---泰克公司日前宣布推出TLA6000系列邏輯分析儀，旨在為主流嵌入式系統(tǒng)設(shè)計者提供強大的高端調(diào)試與分析能力。TLA6000系列以更低的價位提供了以前僅在高性能TLA7000系列上才擁有的性能和功能，相對便攜式TLA5000系列型號提供了更多的能力。
　
　　更高的信號傳輸速率和板卡密度通常會導(dǎo)致信號完整性問題，例如串?dāng)_、地面反跳和鳴震，它們通常表現(xiàn)為數(shù)字系統(tǒng)的功能故障。TLA6000系列為工程師提供了一套完整的工具，可幫他們快速發(fā)現(xiàn)、隔離和解決這些難以隔離的問題。
　
　　泰克邏輯分析儀產(chǎn)品線主管Dave Farrell說：“憑借TLA6000系列，我們擴展了邏輯分析儀產(chǎn)品，同時為解決復(fù)雜的信號完整性問題提供了業(yè)界最完整的工具。該系列提供了豐富的功能和特性，最重要的是提供了全面的信號完整性工具、卓越的性能和易用性，例如拖放式觸發(fā)，同時為數(shù)字系統(tǒng)應(yīng)用如FPGA、DDR和MIPI等提供了先進的分析工具。”
　
強大性能滿足苛刻要求的應(yīng)用
　　TLA6000系列旨在滿足嵌入式系統(tǒng)工程師對于更高性能的需求，該系列包括68、102和136數(shù)字通道配置，所有通道上都帶有125 ps高速定時分析能力，可實現(xiàn)高達450 MHz的狀態(tài)采集能力和128 Mb的存儲深度。這一性能水平代表了重大的性價比突破。
　
　　TLA6000系列通過多項先進的特性提高了工程設(shè)計效率，例如，iCaptureTM技術(shù)通過一只邏輯分析儀探頭同時提供數(shù)字采集和模擬采集，從而無須進行兩次采集。毛刺觸發(fā)和存儲允許用戶觸發(fā)并顯示觀測到的信號完整性錯誤，而iViewTM顯示可在同一個顯示屏上提供邏輯分析儀和示波器數(shù)據(jù)的時間相關(guān)的有用視圖。簡單且直觀的儀器設(shè)置可幫助在繁忙的實驗室環(huán)境中加快設(shè)計過程，從而節(jié)約時間。
　
　　TLA6000系列適用于多種調(diào)試和分析應(yīng)用領(lǐng)域，包括信號完整性分析、FPGA調(diào)試和驗證、MIPI協(xié)議分析、存儲系統(tǒng)驗證以及嵌入式軟件集成與調(diào)試。
  　
上市時間
　　TLA6000系列現(xiàn)已在全球上市。
　
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關(guān)于泰克公司
　　60 多年以來，工程師們不斷向泰克 尋求測試，測量和監(jiān)測解決方案 ，以應(yīng)對設(shè)計挑戰(zhàn)，提高生產(chǎn)效率，大幅縮短產(chǎn)品上市時間。泰克公司是一家領(lǐng)先的測試儀器提供商，為專注于電子設(shè)計、制造及先進技術(shù)開發(fā)的工程師提供支持。泰克公司的總部設(shè)在美國俄勒岡州畢佛頓，為全球范圍內(nèi)的客戶提供備受贊譽的服務(wù)和支持 。獲得前沿技術(shù)，請登陸www.tektronix.com.cn。