7月28日消息，德國馬克斯·普朗克學(xué)會Fritz Haber研究所的研究人員及其在日本分子科學(xué)研究所/SOKENDAI和西班牙CIC nanoGUNE的國際合作者開發(fā)了一項突破性的顯微技術(shù)，能夠以1納米的空間分辨率觀察光與物質(zhì)的相互作用，即可以在單個原子的尺度上可視化光學(xué)反應(yīng)，重新定義了光學(xué)成像的極限，這一成就被稱為“超低振幅震蕩s-SNOM”。
傳統(tǒng)的s-SNOM方法使用激光照射的探針尖端掃描表面，通常可實現(xiàn)10至100納米的分辨率。然而，這對于原子尺度成像來說是不夠的。通過將s-SNOM與非接觸式原子力顯微鏡（nc-AFM）集成，并在可見激光照射下使用銀尖端，研究人員創(chuàng)建了一個限制在微小體積內(nèi)的等離子體腔（一種特殊的光場）。這允許在埃尺度上進(jìn)行詳細(xì)的光學(xué)對比。
全新的“超低振幅震蕩s-SNOM”技術(shù)將分辨率提升至1nm，讓科學(xué)家能夠觀察到原子缺陷、分子及奈米結(jié)構(gòu)等微小特征，這對于材料科學(xué)、電子學(xué)及醫(yī)療設(shè)備的設(shè)計具有重要意義。
這項技術(shù)的發(fā)展不僅突破了以往超高解析顯微鏡的限制，還為未來的研究和技術(shù)發(fā)展開啟新的可能性。科學(xué)家們相信，這種精確的成像能力將對材料的行為和性能產(chǎn)生深遠(yuǎn)影響，并推動新材料的設(shè)計與應(yīng)用。該研究成果上月已經(jīng)發(fā)表在了《科學(xué)進(jìn)展》（Science Advances）期刊上。
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