該檢測" title="檢測">檢測電路可廣泛用于日常生產、生活及軍事。在許多電子技術資料中也有一些序列信號" title="信號">信號檢測電路的設計，但設計方法單一、擴展性不強。下面通過實例來說明電路的3種設計方法。

　　設計任務：設計一個二進制" title="二進制">二進制序列信號檢測器，它有一個輸入X，當接收到的序列為1001，則在上述序列輸入最后一個1的同時，電路輸出Z=1，否則輸出為0，輸入序列可以重疊。例如：當輸入X的序列為0100100101001(首位在左)，對應輸出Z=0000100100001。

　　1 用分立觸發器設計
 

　　觸發器的種類很多，其中雙端輸入的JK觸發器和單端輸入的D觸發器最具代表性。由于用D觸發器設計的電路更為簡單，故采用它來設計電路。

　　1.1 邏輯抽象

　　由于待檢測的序列為1001，故設電路在一直輸入0時的狀態為S0，輸入一個1以后的狀態為S1，連續輸入10以后的狀態為S2，連續輸入100后的狀態為S3，連續輸入1001后的狀態為S4。于是得到狀態轉換如圖1所示。

　　圖1 狀態轉換圖

　　選取第1、3行解釋其原理：S0表示接收到的是0，當在此基礎上再接收到一個0后變為00，而需要檢測的序列是1001，所以電路狀態仍然停留在S0上;當電路在S0的基礎上接收到1后表示接收到1001序列中的第一個1，于是電路狀態轉為S1。同理S2表示已經接收到10，當在此基礎上接收到0后變為100，電路轉到S3，但是接收到1后則變為101，于是前面接收的兩位代碼失去作用，只有第3位的1可作為1001的第一位，所以電路狀態轉回S1。

　　通過觀察狀態轉換表，可以發現，S1和S4在同樣的輸入下有同樣的輸出，而且狀態轉移后得到同樣的次態。因此它們是等價的可以合并，于是，狀態轉換表可以化簡如圖2所示。

　　圖2 化簡后的轉換表

　　從物理概念上也不難理解這種情況。當電路連續接收到1001后，輸出為1，但序列可以重疊，故最后一個1可作為下一個1001序列的第一位，所以電路在連續接收到1001后的狀態S4實際上就是S1。

　　1.2 編碼

　　由化簡后的狀態轉換表2可知，電路總共有4種狀態(S0～S3)，而每個觸發器的輸出Q可以用0或1表示兩種狀態，于是兩個觸發器的輸出Q1Q0的4種00、01、10、11就可以表示這4種狀態S0～S3。這個過程即為編碼。

　　1.3 列真值表并寫出狀態方程

　　將化簡后的狀態轉換為表中各狀態，用編碼表示即得到真值表，如圖3所示。其中表示Q1Q0的下一狀態。寫出關于X，Q1，Q0的方程，即電路的狀態方程，如式(1)所示。

　　圖3 真值表

　　1.4 作邏輯電路圖

　　由于D觸發器的特性方程為Q*=D，從而

，根據該方程就可以畫出邏輯電路圖，如圖4所示。

　　圖4 序列碼檢測器邏輯電路圖

　　2 將觸發器接成移位寄存器進行設計

　　以上設計方法主要依靠電路的狀態轉換實現序列碼檢測，雖然所得電路簡單，但是設計過程較復雜，特別是當需要檢測的序列碼位數較長時，工作量較大。為此，將觸發器接成移位寄存器的方式，可簡化電路設計，同時也便于擴展成位數更多的序列碼檢測器。用4個D觸發器接成的向右移位寄存器。電路如圖5所示。

　　圖5 移位寄存器型序列碼檢測器

　　由圖5可知，

。在移位脈沖clk作用下，輸入端X輸入的二進制碼依次向右移動，每當出現一個完整的1001序列時，輸出端Z便出現高電平。這樣就實現了序列碼檢測的功能。3 用中規模集成電路進行設計

　　既然用移位寄存器可以實現序列信號檢測，那么用集成移位寄存器加少量門電路同樣可以實現，而且電路可靠性更高。用4位集成移位寄存器74LS194，實現的序列1001檢測器，如圖6所示。

　　圖6 用集成移位寄存器構成序列碼檢測器

　　4 當序列不可重疊時的電路設計

　　用以上3種方法設計出的電路，都是可序列重疊的序列碼檢測器，若要求被檢測的序列不可重疊，則在方法1中，只需要根據實際情況修改狀態轉換表即可。后面的設計原理及步驟不變。這種設計方法存在的問題仍然是當待檢測的序列位數較長時，設計工作量大、電路可靠性降低。在采用第2、第3種方法設計時，需增加部分控制電路，為保證輸入與時鐘的同步性，需要使得每當檢測出一個序列時，直接將序列的下一位置入寄存器最低位，同時置寄存器其余各位為序列碼最后一位的反碼以消除重疊代碼的影響。此外再用一個鎖存器使輸出高電平多保持0.5個時鐘周期，其優點是：可以消除移位過程中的競爭冒險，使得輸出波形更穩定、電路可靠性更高，電路如圖7所示。

　　圖7 用移位寄存器構成的序列不可重疊的序列碼檢測器